Método de medida de tensões residuais em filmes finos através de nanoindentação (2002)
Queiroz, Alvaro Affonso Paschoal; Souza, Roberto Martins de (Orientador) 
Subjects: TENSÃO RESIDUAL, FILMES FINOS, REVESTIMENTOS
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ABNT
QUEIROZ, Alvaro Affonso Paschoal. Método de medida de tensões residuais em filmes finos através de nanoindentação. 2002. Trabalho de Conclusão de Curso (Graduação) – Escola Politécnica, Universidade de São Paulo, São Paulo, 2002. Disponível em: https://bdta.abcd.usp.br/directbitstream/fd87f229-30ea-4f9c-a1db-81bb096e4459/Alvaro%20Affonso%20Paschoal%20Queiroz.pdf. Acesso em: 01 maio 2026.APA
Queiroz, A. A. P. (2002). Método de medida de tensões residuais em filmes finos através de nanoindentação (Trabalho de Conclusão de Curso (Graduação). Escola Politécnica, Universidade de São Paulo, São Paulo. Recuperado de https://bdta.abcd.usp.br/directbitstream/fd87f229-30ea-4f9c-a1db-81bb096e4459/Alvaro%20Affonso%20Paschoal%20Queiroz.pdfNLM
Queiroz AAP. Método de medida de tensões residuais em filmes finos através de nanoindentação [Internet]. 2002 ;[citado 2026 maio 01 ] Available from: https://bdta.abcd.usp.br/directbitstream/fd87f229-30ea-4f9c-a1db-81bb096e4459/Alvaro%20Affonso%20Paschoal%20Queiroz.pdfVancouver
Queiroz AAP. Método de medida de tensões residuais em filmes finos através de nanoindentação [Internet]. 2002 ;[citado 2026 maio 01 ] Available from: https://bdta.abcd.usp.br/directbitstream/fd87f229-30ea-4f9c-a1db-81bb096e4459/Alvaro%20Affonso%20Paschoal%20Queiroz.pdf
