Método de medida de tensões residuais em filmes finos através de nanoindentação (2002)
Unidade: EPSubjects: TENSÃO RESIDUAL, FILMES FINOS, REVESTIMENTOS
ABNT
QUEIROZ, Alvaro Affonso Paschoal. Método de medida de tensões residuais em filmes finos através de nanoindentação. 2002. Trabalho de Conclusão de Curso (Graduação) – Escola Politécnica, Universidade de São Paulo, São Paulo, 2002. Disponível em: https://bdta.abcd.usp.br/directbitstream/fd87f229-30ea-4f9c-a1db-81bb096e4459/Alvaro%20Affonso%20Paschoal%20Queiroz.pdf. Acesso em: 15 jun. 2024.APA
Queiroz, A. A. P. (2002). Método de medida de tensões residuais em filmes finos através de nanoindentação (Trabalho de Conclusão de Curso (Graduação). Escola Politécnica, Universidade de São Paulo, São Paulo. Recuperado de https://bdta.abcd.usp.br/directbitstream/fd87f229-30ea-4f9c-a1db-81bb096e4459/Alvaro%20Affonso%20Paschoal%20Queiroz.pdfNLM
Queiroz AAP. Método de medida de tensões residuais em filmes finos através de nanoindentação [Internet]. 2002 ;[citado 2024 jun. 15 ] Available from: https://bdta.abcd.usp.br/directbitstream/fd87f229-30ea-4f9c-a1db-81bb096e4459/Alvaro%20Affonso%20Paschoal%20Queiroz.pdfVancouver
Queiroz AAP. Método de medida de tensões residuais em filmes finos através de nanoindentação [Internet]. 2002 ;[citado 2024 jun. 15 ] Available from: https://bdta.abcd.usp.br/directbitstream/fd87f229-30ea-4f9c-a1db-81bb096e4459/Alvaro%20Affonso%20Paschoal%20Queiroz.pdf